工信部張新生:TD-LTE終端測試仍需再加碼
11月27日,在上周召開的由工信部電信研究院和TD技術論壇聯合主辦的“2012TD-LTE測試技術研討會”上,工業和信息化部電信管理局巡視員張新生表示,終端對整體推動TD-LTE發展和產業鏈各環節健康有序進行至關重要,而LTE終端的發展需要站在兩個制高點上去考慮,一個是芯片,一個是操作系統和應用。
據張新生介紹,不管是TDD還是FDD,LTE終端都需要解決功耗問題,在電源控制技術和芯片制造技術上滿足功耗的需求。“從目前看,功耗需求如果無法滿足,LTE的終端就不可能實現老百姓的商用,其中最重要的原因就在于,過去主要是多頻單模的手機,但是現在為滿足LTE的發展,手機必須是全模全頻,而在全模全頻的條件下還要解決功耗問題就變得非常重要。因此,提供全模全頻的28納米的芯片將是一個發展中的戰略制高點。”
另外,張新生指出,隨著云計算、移動互聯網、物聯網和IPV6的發展,這將對終端提出一個更高的要求,就是不能再做功能機了,“智能終端的發展速度已經遠遠超過了功能機,而且隨著以終端為界面的移動互聯網發展,目前智能機的發展已經超過PC的發展。所以未來終端既是通信工具又是互聯網的工具,那么在互聯網的大前提下,它肯定要有各種應用,也就是說終端設備,不僅僅是要關注于硬件平臺,還要關心操作系統和更多應用。”
張新生表示,芯片市場發展迅速,未來將會有雙模或者多頻多模TD-LTE終端出現。而要想把這些實驗室的產品推向市場,必須要使產品能夠保證消費者的權益,滿足消費者使用過程中的質量要求,儀表測試技術和儀器就變得非常關鍵。為此,一是需要打造良好測試環境,二是建立完善的測試標準體系。
“測試技術和儀表基本可以滿足當前對系統設備測試的要求。”張新生認為,“然而,對終端測試的有關標準和儀器儀表仍需要再加碼,這是因為要把終端推向市場,必須制定出一套適應其發展的測試標準,按照這個標準進行檢測。這就靠一套能夠檢測出或者按照標準去檢測的儀器儀表。”
另外,張新生認為,由于測試時間長和價格高昂,導致TD-SCDMA終端發展狀況并不可觀,因此,在推動TD-LTE終端發展時,不僅要有好的測試環境、手段和條件,還要儀表企業提供速度快、價格便宜、方便的終端測試。實際上,儀表在推動整個產業中起到非常重要的作用。